X射線熒光光譜（XRF）作為一種高效的無損分析技術，其檢測結果的準確性高度依賴于樣品制備質量。本文針對XRF分析中的制樣要點展開探討，為實驗人員提供標準化操作參考。
一、制樣方法分類
根據樣品形態差異，常規制樣分為三類：金屬樣品需經切割、研磨、拋光處理，確保表面粗糙度＜5μm；粉末樣品需經烘干、研磨至200目以上，采用硼酸鑲邊壓片法成型；液體樣品需保證均勻性，避免揮發性物質逸散。特殊樣品如鍍層材料需制備截面，熔融法則適用于非均質樣品的玻璃化處理。
二、關鍵控制參數
污染控制：使用碳化鎢研磨工具時需校正鎢元素干擾，全程佩戴無粉手套；
粒徑控制：粉末樣品需通過激光粒度儀驗證，D50值應≤50μm；
厚度要求：壓片樣品厚度需超過X射線穿透深度的3倍，金屬薄片建議＞1mm；
標準樣品：必須與待測樣在基體匹配性、粒徑分布上保持高度一致。
三、標準化流程建議
建立"樣品預處理-制樣操作-質量驗證"三級控制體系。預處理階段嚴格執行干燥（105℃±5℃恒溫2h）和除塵；制樣環節采用液壓機（壓力≥30T）保壓60秒；質量驗證包含表面平整度檢測（白光干涉儀）和重復性測試（RSD＜2%）。
創想X熒光光譜儀
XRF制樣既是技術也是藝術，需在標準化的框架下靈活應對樣品特性。通過建立科學的制樣規程，可顯著提升檢測數據的可靠性，為材料成分分析提供堅實基礎。實驗室應根據自身檢測需求建立制樣SOP文件，定期開展制樣比對試驗以保證結果一致性。